Giảng viên
TS. Lê Thái Hà
Số lượng
30
Thời gian
4 tháng
Giấy chứng nhận
Có
Lý thuyết
23 giờ
Thực hành
23 giờ
Tên khóa học: IC Testing
Mã số: ICT
Nội dung đào tạo
- IC Testing Introduction – 2 lectures
- IC Testing Process and Equipment – 2 lectures
- Faults and Fault modeling – 2 lectures
- Testability Measures – 2 lectures
- Test Pattern Generation Algorithms for Combination Circuits – 2 lectures
- IC Quiescent Current (IDDQ) Testing – 2 lectures
- Design for Testability – 3 lectures
- Built-in Self Testing (BIST) – 2 lectures
- Memory IC Testing – 2 lectures
- System Level Test Techniques – 2 lectures
- Analog and Mixed Signal Testing – 2 lectures
Mục đích đào tạo
- Kiến thức tổng quan và thực hành về DFT và Built-in self test
Tài liệu tham khảo
- VLSI Test Principles and Architectures: Design for Testability
Đăng ký ngay
Họ và tên
Số điện thoại
Chương trình học
Courses
✔
{{ course }}
Lời nhắn

CHÚC MỪNG!
Bạn đã đăng ký thành công! Chúng tôi sẽ liên hệ sớm nhất ngay khi có thông tin của lớp học!